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岛津EDX-7000/8000

采用高性能的SDD检测器,确保硬件最佳化,具有前所未有的高灵敏度·高速分析和高分辨率
可以检测出6C~的机型正式上线(EDX-8000)

产品介绍

无与伦比的分析性能

采用高性能的SDD检测器,确保硬件最佳化,具有前所未有的高灵敏度·高速分析和高分辨率
可以检测出6C~的机型正式上线(EDX-8000)
高灵敏度 –提高检测下限1.5~5倍
高性能的SDD检测器与最佳化的光学系统和一次滤光片的组合,实现前所未有的高灵敏度
从轻元素到重元素,全范围轻松应对;与采用传统Si(Li)半导体检测器的分析装置相比,灵敏度也更胜一筹

高速 –分析速度最大可提高10倍-
SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高,因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析,这个特点可以得到最大限度的发挥。

         测定时间与标准偏差(定量值偏差)的关系
            实际样品的比较
分别用以往型号和EDX-7000/8000对无铅焊锡中所含的铅(Pb)进行分析,比较重现性。

 

X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度(重现性)。
搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000与以往型号相比,能够在更短的时间内保证分析精度。

                          满足分析精度所需的检测时间

高分辨率

与配置以往Si(Li)半导体检测器的型号相比,能量分辨率更胜一筹。
不同元素峰值重叠的影响减小,提升可靠性。

                            能量分辨率的比较(样品:PPS树脂)

无需液氮
SDD检测器为电子制冷方式,无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来,更可以降低仪器的维护成本。
检测元素范围

· 用EDX-7000进行15P以下的轻元素分析时,需要真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件)。
· 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时,需要真空检测单元(选购件)。

EDX-8000进行超轻元素分析
EDX-8000搭载的SDD检测器窗口采用极薄的薄膜特殊材料,能够检测碳(C)、氧(O)、氟(F)超轻元素。

用EDX-8000检测氟元素的分析结果

基本参数

 技术参数:

X射线光管 最大:50kV 1mA 风冷式 Rh靶
检测器 高性能SDD检测器(无需液氮)
测定元素范围 EDX-7000:11Na~92U
EDX-8000:6C~92U
一次滤光片 5种+OPEN 自动交换
准直器 4种自动交换(φ1, φ3, φ5, φ10mm)
样品观察装置 CMOS摄像头
样品室尺寸(W×D×H) 300mm×275mm×约100mm、(但,R部分除外)
仪器主机尺寸(W×D×H) 460mm×590mm×360mm
主机重量 约66kg
软件 简单分析软件(PCEDX-Navi)
一般分析软件(PCEDX-Pro)
选购件 真空分析附件
He置换分析附件(仅EDX-7000)


产品特点

能量色散型X射线荧光分析仪器的分析样品可以无需做前处理、并且可以非破坏地进行各种形态样品的元素分析(定性・定量)。

 
EDX-7000/8000装配了高性能SDD检测器,并且优化了光学系统,最终获得了大幅超越原有机型的分析性能。
 
真空分析、He置换分析、丰富的一次滤光片,这些可以保证从轻元素到重元素广范围内进行高灵敏度的分析。
 
通过准直器、观察样品摄像头、以及BG FP法(专利)可以从容应对微小微量分析。
 
通过使用简单分析软件PCEDX-Navi,初学者也可以简单安心操作X射线荧光分析仪器。
 


产品应用

岛津EDX-7000/8000

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